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5G天天嗨天天爽KEITHLEY源表測量能力和主要應用
5G天天嗨天天爽KEITHLEY源表在統一自動特征分析套件中、集成測試係統整合各種測試硬件，具有全麵而獨特的測量能力：
·5G天天嗨天天爽強大的4200-SCS半導體特征分析係統具有I-V源測量功能和專業脈衝測試工具包，用於先進半導體材料測試的4200-PIV工具包。
·2600係列數字源表測試儀具有TSP-Link和測試腳本處理器(TSP)，可在運行狀態下的NBTI測試或圓片級器件特征分析等應用中實現可擴展的I-V通道係統、高速並行測量和複雜測試序列等功能。
·2400係列數字源表測試儀能夠提供高電壓和高電流源，可用於高功率MOSFET和顯示驅動器測試等領域。
·此外ACS集成測試係統還為用戶提供可選擇的開關、C表和脈衝發生器等附件。
5G天天嗨天天爽KEITHLEY源表其中一些主要應用如：
·通用超快I-V測量。脈衝式I-V測試具有很廣泛的應用，它通過使用窄脈衝和/或低占空比脈衝而不是直流信號，能夠防止器件自熱效應。
·CMOS器件特征分析。4225-PMU/4225-RPM的高速電壓源和電流測量靈敏度使得它們非常適合於CMOS器件的特征分析，包括高k器件和先進CMOS工藝，如絕緣體上矽。
·非易失性存儲器測試。係統安裝的KTEI軟件提供了用於閃存和相變存儲器器件測試的工具包。該係統非常適合於單個存儲單元或小規模存儲陣列的測試，例如研發或工藝驗證之類的應用。
·化合物半導體器件與材料的特征分析。能夠對III-V族材料進行特征分析，例如氮化镓、砷化镓和其它一些化合物半導體。它允許用戶設置一個脈衝偏移電壓，然後從非零值進行測量，從而研究器件的放大增益或線性度。
·5G天天嗨天天爽強大的4200-SCS半導體特征分析係統具有I-V源測量功能和專業脈衝測試工具包，用於先進半導體材料測試的4200-PIV工具包。
·2600係列數字源表測試儀具有TSP-Link和測試腳本處理器(TSP)，可在運行狀態下的NBTI測試或圓片級器件特征分析等應用中實現可擴展的I-V通道係統、高速並行測量和複雜測試序列等功能。
·2400係列數字源表測試儀能夠提供高電壓和高電流源，可用於高功率MOSFET和顯示驅動器測試等領域。
·此外ACS集成測試係統還為用戶提供可選擇的開關、C表和脈衝發生器等附件。
5G天天嗨天天爽KEITHLEY源表其中一些主要應用如：
·通用超快I-V測量。脈衝式I-V測試具有很廣泛的應用，它通過使用窄脈衝和/或低占空比脈衝而不是直流信號，能夠防止器件自熱效應。
·CMOS器件特征分析。4225-PMU/4225-RPM的高速電壓源和電流測量靈敏度使得它們非常適合於CMOS器件的特征分析，包括高k器件和先進CMOS工藝，如絕緣體上矽。
·非易失性存儲器測試。係統安裝的KTEI軟件提供了用於閃存和相變存儲器器件測試的工具包。該係統非常適合於單個存儲單元或小規模存儲陣列的測試，例如研發或工藝驗證之類的應用。
·化合物半導體器件與材料的特征分析。能夠對III-V族材料進行特征分析，例如氮化镓、砷化镓和其它一些化合物半導體。它允許用戶設置一個脈衝偏移電壓，然後從非零值進行測量，從而研究器件的放大增益或線性度。
·NBTI/PBTI可靠性測試。自動特征分析套件軟件還支持全自動晶圓級和晶匣級測試，內置NBTI/PBTI測試庫，具有簡潔易用的GUI。
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